常用的螺紋環規測量方法主要有三種

　　常(chang)用的(de)螺紋環規測(ce)(ce)(ce)量方法主要有三種(zhong)，用螺紋(wen)(wen)校(xiao)對量規進行(xing)綜合測(ce)(ce)(ce)量;用測(ce)(ce)(ce)長(chang)機測(ce)(ce)(ce)量螺紋(wen)(wen)單一中徑;用輪廓掃描型儀器測(ce)(ce)(ce)量螺紋(wen)(wen)全參數。這(zhe)三種(zhong)方法在不同的(de)領域有不同的(de)應用，各有各

　　常用的(de)螺(luo)紋(wen)環規(gui)測量(liang)方法(fa)主要有(you)三(san)種，用螺(luo)紋(wen)校對(dui)量(liang)規(gui)進行綜合測量(liang);用測長機測量(liang)螺(luo)紋(wen)單一中(zhong)徑;用輪廓掃(sao)描型儀(yi)器測量(liang)螺(luo)紋(wen)全參數。這三(san)種方法(fa)在不同的(de)領域有(you)不同的(de)應(ying)用，各有(you)各的(de)使(shi)用 點，現對(dui)這三(san)種方法(fa)進行初步(bu)比較，以(yi)便(bian)使(shi)用者根據(ju)自身(shen)的(de)使(shi)用情況對(dui)照使(shi)用。

　　1測(ce)長機測(ce)量(liang)單一中(zhong)徑:

　　用測長機測量螺紋環規的單一中徑有兩種方 式，一種是測鉤，一種是T形雙球量桿。通過接觸法以標準環規與被測螺紋環規進行比較測量得出螺紋環規的單一中徑 J。該方法的優點是對于M4以上的螺紋環規基本都能夠檢測，所以該方法在經濟許可的情況下應用較為普遍。但是由于測長機測量的是螺紋環規的單一中徑，它與 校對規的方法有時是矛盾的。比如螺紋環規成橢圓形，校對規與測長機的測量結果往往是相反的。另外由于單一中徑測量結果通常是根據螺距、牙形角的名義值計算 出來的。所以對于螺距、半角控制不嚴的情況存在較大的不確定因素。而且對于許多美國制造的的三段式可調式螺紋環規，由于其不是規則的圓形，環規實際作用的 地方一般不在測量軸線上，所以測量結果會比實際值大許多。

　　2螺紋輪廓掃描型儀測量(liang)全參數:

　　螺(luo)(luo)紋(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)產品(pin)的(de)(de)(de)(de)(de)質(zhi)量(liang)(liang)(liang)對(dui)(dui)(dui)于(yu)產品(pin)的(de)(de)(de)(de)(de)穩定(ding)(ding)和 起(qi)著(zhu)關(guan)鍵的(de)(de)(de)(de)(de)作(zuo)用(yong)。對(dui)(dui)(dui)于(yu)航空、航天、交通運(yun)輸、橋梁、管道和氣液(ye)存儲產品(pin)等，螺(luo)(luo)紋(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)產品(pin)的(de)(de)(de)(de)(de)質(zhi)量(liang)(liang)(liang) 是(shi)會影響(xiang)到 工(gong)程 和生命財產的(de)(de)(de)(de)(de) 。螺(luo)(luo)紋(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)的(de)(de)(de)(de)(de)質(zhi)量(liang)(liang)(liang)在這些(xie)重(zhong)要(yao)場(chang)合得到完(wan)全的(de)(de)(de)(de)(de)保障。但是(shi)螺(luo)(luo)紋(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)是(shi)復雜的(de)(de)(de)(de)(de)空間(jian)曲面(mian)體(ti)，它(ta)由許(xu)多幾何(he)參(can)數(shu)構成(cheng)的(de)(de)(de)(de)(de)，而螺(luo)(luo)紋(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)校對(dui)(dui)(dui)量(liang)(liang)(liang)規(gui)(gui)及(ji)(ji)測(ce)長機 只(zhi)是(shi)控(kong)制(zhi)綜合的(de)(de)(de)(de)(de)作(zuo)用(yong)中(zhong)徑及(ji)(ji)單一中(zhong)徑，其他參(can)數(shu)則(ze)無法控(kong)制(zhi)，合格(ge)性判(pan)斷經常出(chu)現(xian)爭議。如果(guo)要(yao)完(wan)全控(kong)制(zhi)螺(luo)(luo)紋(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)質(zhi)量(liang)(liang)(liang)，則(ze)需(xu)要(yao)對(dui)(dui)(dui)螺(luo)(luo)紋(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)的(de)(de)(de)(de)(de)所有參(can)數(shu)進(jin)行(xing)單 檢測(ce)才能準確 地確定(ding)(ding)螺(luo)(luo)紋(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)的(de)(de)(de)(de)(de)質(zhi)量(liang)(liang)(liang)。螺(luo)(luo)紋(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)輪(lun)廓掃描型儀器能夠在螺(luo)(luo)紋(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)軸(zhou)向剖面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)上、下(xia)輪(lun)廓表(biao)面(mian)連續測(ce)量(liang)(liang)(liang)圓柱(zhu)或(huo)圓錐螺(luo)(luo)紋(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)塞、環規(gui)(gui)的(de)(de)(de)(de)(de)中(zhong)徑、大徑、小徑、螺(luo)(luo)距、牙型半角、錐度等。 該種儀器的(de)(de)(de)(de)(de)出(chu)現(xian)使螺(luo)(luo)紋(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)量(liang)(liang)(liang)規(gui)(gui)的(de)(de)(de)(de)(de)全參(can)數(shu)測(ce)量(liang)(liang)(liang)成(cheng)為可能，它(ta)與(yu)一般(ban)輪(lun)廓儀有著(zhu)本質(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)區(qu)別。制(zhi)造(zao)商(shang)可根據這些(xie)信(xin)息(xi)對(dui)(dui)(dui)加(jia)工(gong)機器或(huo)工(gong)具做相應調整，計量(liang)(liang)(liang)工(gong)作(zuo)者可對(dui)(dui)(dui)測(ce)量(liang)(liang)(liang)結 果(guo)進(jin)行(xing)詳細的(de)(de)(de)(de)(de)鑒定(ding)(ding)和評估。由于(yu)螺(luo)(luo)紋(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)環規(gui)(gui)本身的(de)(de)(de)(de)(de)公差較(jiao)小，儀器測(ce)量(liang)(liang)(liang)中(zhong)徑的(de)(de)(de)(de)(de)不確定(ding)(ding)度達到3 m或(huo) 小，螺(luo)(luo)距的(de)(de)(de)(de)(de)不確定(ding)(ding)度達到1 m或(huo) 小。該種儀器的(de)(de)(de)(de)(de)缺點是(shi)只(zhi)能在軸(zhou)向剖面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)上、下(xia)輪(lun)廓表(biao)面(mian)掃描，對(dui)(dui)(dui)于(yu)三段式可調式螺(luo)(luo)紋(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)(wen)環規(gui)(gui)，則(ze)與(yu)測(ce)長機一樣(yang)無法準確測(ce)量(liang)(liang)(liang)。而且其昂貴的(de)(de)(de)(de)(de)價格(ge)及(ji)(ji)用(yong)途的(de)(de)(de)(de)(de)單一 對(dui)(dui)(dui)于(yu)其普及(ji)(ji)性有一定(ding)(ding)影響(xiang)。

　　3螺(luo)紋校對量規綜合測量:

螺紋(wen)校(xiao)對量(liang)規用于綜合測量螺(luo)紋(wen)(wen)(wen)作用中徑，是 標準(zhun)GB3934-2003及(ji)計(ji)量檢定(ding)規(gui)(gui)程JJG 888-1995規(gui)(gui)定(ding)對(dui)(dui)普通螺(luo)紋(wen)(wen)(wen)測量結(jie)果(guo)終的(de)(de)判定(ding)方法。該方法源于1905年英(ying)國人發明的(de)(de)泰勒原則。螺(luo)紋(wen)(wen)(wen)環(huan)(huan)規(gui)(gui)的(de)(de)通端用螺(luo)紋(wen)(wen)(wen)校(xiao)對(dui)(dui)量規(gui)(gui)，TT、TZ及(ji)Zs檢 驗;止端用ZT、ZZ及(ji)ZS檢驗 。它的(de)(de)優點是具有較好的(de)(de)經濟性，可以保(bao)(bao)證裝配(pei)，對(dui)(dui)于生產(chan)工藝水(shui)平較高(gao)(gao)的(de)(de)制(zhi)造商，在螺(luo)距、半角(jiao)有保(bao)(bao)證的(de)(de)情況下(xia)，使用它可以較好地控制(zhi)螺(luo)紋(wen)(wen)(wen)質量。它的(de)(de)缺(que)點是螺(luo) 紋(wen)(wen)(wen)的(de)(de)質量保(bao)(bao)證水(shui)平低，存(cun)在技術漏洞。比如(ru)無法知道螺(luo)紋(wen)(wen)(wen)單(dan)個參數的(de)(de)具體(ti)(ti)尺寸(cun)值(zhi)，而(er)且由于螺(luo)紋(wen)(wen)(wen)環(huan)(huan)規(gui)(gui)本身精度(du)較高(gao)(gao)，螺(luo)紋(wen)(wen)(wen)校(xiao)對(dui)(dui)量規(gui)(gui)的(de)(de)公差(cha)與螺(luo)紋(wen)(wen)(wen)環(huan)(huan)規(gui)(gui)的(de)(de)公差(cha)少(shao)不了多(duo) 少(shao)，同樣都(dou)合格(ge)的(de)(de)兩個校(xiao)對(dui)(dui)規(gui)(gui)可能出現相反的(de)(de)結(jie)果(guo)，存(cun)在許多(duo)爭議。另外由于螺(luo)紋(wen)(wen)(wen)環(huan)(huan)規(gui)(gui)規(gui)(gui)格(ge)的(de)(de)多(duo)樣性，對(dui)(dui)于檢測機構來說，螺(luo)紋(wen)(wen)(wen)校(xiao)對(dui)(dui)量規(gui)(gui)很難全部配(pei)齊。